薄膜測厚儀
簡要描述：
瑞(rui)士SYLVAC薄膜測(ce)厚儀用(yong)于測(ce)量(liang)較(jiao)軟或較(jiao)硬材料(liao)薄膜厚度(du)，根據(ju)測(ce)量(liang)材料(liao)可(ke)選擇不同測(ce)力范圍(wei)滿足不同測(ce)量(liang)任務(wu)需求。低測(ce)力可(ke)達0.06N，高分(fen)辨率0.01μm。
產品(pin)時(shi)間(jian)：2020-06-30
瑞士SYLVAC薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
適用(yong)于電子行(xing)業，光伏(fu)行(xing)業，醫療行(xing)業，新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車行(xing)業，鋰電池行(xing)業用(yong)于測(ce)量薄膜厚度，具(ju)有精度高，測(ce)量效(xiao)率(lv)快的特點。
而(er)且這(zhe)款薄膜測厚儀可實(shi)現數(shu)(shu)據(ju)傳輸，支持(chi)數(shu)(shu)據(ju)導(dao)入(ru)導(dao)出，很方(fang)便的將數(shu)(shu)據(ju)進行采集及分析，可追溯(su)性強，滿足車間現場(chang)已經實(shi)驗(yan)室對于薄膜的測(ce)量需求。
 | 分辨率：0.1μm 測力：0.3-1.3N（根(gen)據需要選擇） |
 | 分辨率：1μm 測力(li)：0.4-1.6N（根(gen)據需要選擇） |
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